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一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法

A Data Compression Method Based on Filling the Don't Care Bits in Response
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摘要 提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑. 提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑.
作者 顾婉玉 梁华国 徐三子
机构地区 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥工业大学电子科学与应用物理学院
出处 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2010年第S1期39-43,共5页 Journal of Computer Research and Development
基金 国家自然科学基金项目(60876028) 国家自然科学基金重点项目(60633060) 安徽省海外高层次人才基金项目(2008Z014)
关键词 测试数据压缩 LFSR编码 响应分块相容 重新播种 test data compression LFSR coding blocks’ compatibility between responses and test vectors reseeding
分类号 TP3 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 相关文献

参考文献12

  • 1叶益群,梁华国,詹凯华.基于响应分块相容的测试数据编码压缩方案[J].计算机辅助设计与图形学学报,2008,20(4):446-451. 被引量：2
  • 2李扬,梁华国,刘军,胡志国.基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法[J].计算机辅助设计与图形学学报,2007,19(3):361-365. 被引量：9
  • 3梁华国,蒋翠云.基于交替与连续长度码的有效测试数据压缩和解压[J].计算机学报,2004,27(4):548-554. 被引量：69
  • 4Li L,Chakrabarty K.Test data compression usingdictionaries with fixed-length indices. Proc of VLSI TestSymp . 2003
  • 5Würtenberger A,Tautermann C S,Hellebrand S.A hybridcoding strategy for optimized test data compression. Proc ofIEEE Int Test Conf . 2003
  • 6Zacharia N,Rajski J,Tyszer J.Decompression of test datausing variable2length seed LFSRs. Proc of VLSI Test Symp . 1995
  • 7Chandra A,Chakrabarty K.Test data compression and decompression based on internal scan chains and Golomb coding. IEEE Trans on Computer-Aided Design of Integrated Circuit s and Systems . 2002
  • 8Sybille Hellebrand,Steffen Tarnick,Janusz Ranusz Rajski,Bernard COurtois.Generation of Vector Patterns Through Reseeding of Multiple-Polynomial Linear Feedback Shift Registers. IEEE International Test Conference TC . 1992
  • 9Koenemann B.LFSR-coded test patterns for scan designs. Proceedings of European Test Conferenee . 1991
  • 10Jas A,Ghosh-Dastidar J,Touba NA.Scan vector com-pression/decompression using statistical coding. Proceedings of the 17th IEEE VLSI Test Symposium . 1999

二级参考文献37

  • 1胡瑜,韩银和,李晓维.SOC可测试性设计与测试技术[J].计算机研究与发展,2005,42(1):153-162. 被引量：42
  • 2李扬,梁华国,刘军,胡志国.基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法[J].计算机辅助设计与图形学学报,2007,19(3):361-365. 被引量：9
  • 3Abramovici M., Breuer M., Friedman A.. Digital Systems Testing and Testable Design. New York: Computer Science Press, 1990
  • 4Liang Hua-Guo, Hellebrand S., Wunderlich H.-J.. A mixed-mode BIST scheme based on folding compression. Journal of Computer Science and Technology, 2002, 17(2)
  • 5Liang Hua-Guo. A New Technique for Deterministic Scan-based Built-in Self-test (BIST). Aachen, Germany: Shaker Verlag GmbH, 2003
  • 6Chandra A., Chakrabarty K.. System-on-a-chip test data compression and decompression based on internal scan chains and Golomb coding. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, 2002, 21:715～722
  • 7Chandra A., Chakrabarty K. System-on-a-chip test data compression and decompression architectures based on Golomb codes. IEEE Transactions on CAD/ICAS, 2001, 20: 355～368
  • 8Chandra A., Chakrabarty K.. Frequency-directed run-length (FDR) codes with application to system-on-a-chip test data compression. In: Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium, Marina Del Rey, CA, 2001, 42～47
  • 9Jas A., Ghosh-Dastidar J., Touba N.A.. Scan vector compression/decompression using statistical coding. In: Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 1999, 114～120
  • 10Jas A., Touba N.A.. Test vector decompression via cyclical scan chains and its application to testing core-based designs. In: Proceedings of IEEE International Test Conference (ITC), Washington, D.C., 1998, 458～464

共引文献74

计算机研究与发展
2010年 第S1期

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