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基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案 被引量：1

A Test Compression Method of Power Law Division Based on Dynamic Assignment of Don't Care Bits
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摘要 随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率. 随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率.
作者 徐三子 梁华国 顾婉玉 刘杰
机构地区 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 阜阳师范学院物理与电子科学学院
出处 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2010年第S1期181-184,共4页 Journal of Computer Research and Development
基金 国家自然科学基金重点项目(60633060) 国家自然科学基金项目(60876028) 高等学校博士学科点基金项目(200803590006) 安徽省海外高层次人才基金项目(2008Z014) 安徽省高校省级自然科学研究基金项目(KJ2010B428 2008jq1176)
关键词 测试数据压缩 幂次 无关位 test data compression power law don’t care bit
分类号 TP3 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 相关文献

参考文献4

  • 1刘娟,欧阳一鸣,梁华国.基于连续和交替序列编码的测试数据压缩[J].计算机工程,2010,36(1):274-276. 被引量：6
  • 2张念,梁华国,易茂祥.基于折半划分的测试数据压缩方法[J].计算机应用,2007,27(12):3129-3131. 被引量：3
  • 3Chandra A,Chakrabarty K.Frequency-directed run-length（FDR)codes with application to system-on-a-chip test datacompression[].Proc of the th IEEE VLSI Test Symposium.2001
  • 4Anshuman Chandra,,Krishnendu Chakrabarty.Test data compression and decompression based on internal scan chains and Golomb coding[].IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems.2002

二级参考文献17

  • 1Li Lei, Chakrabarty K. Test Data Compression Using Dictionaries with Fixed-length Indices[C]//Proc. of the 21st IEEE VLSI Test Symposium. Washington D. C., USA: [s. n.], 2003.
  • 2Chandra A, Chakrabarty K. System-on-a-Chip Test Data Compression and Decompression Architectures Based on Golomb Codes[J]. IEEE Transactions on CAD of Integrated Circuits and Systems, 2001, 20(3): 355-368.
  • 3Chandra A, Chakrabarty K. Test Data Compression and Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip Using Frequency- Directed Run-length(FDR) Codes[J]. 1EEE Transactions on Computers, 2003, 52(8): 1076-1088.
  • 4Gonciari P T, Al-Hashimi B M, Nicolici N. Variable-length Input Huffman Coding for System-on-a-Chip Test[J]. IEEE Transactions on CAD of Integrated Circuits and Systems, 2003, 22(6): 783-796.
  • 5Zhan Wenfa, Liang Huaguo, Shi Feng, et al. Test Data Compression Scheme Based on Variable-to-fixed-plus-variable-length Coding[J]. Journal of Systems Architecture, 2007, 53(11): 877-887.
  • 6Hamzaoglu I, Patel J H. Test Set Compaction Algorithms for Combinational Cireuits[C]//Proc. of International Conference on CAD. Princeton, New Jersey, USA: [s. n.], 1998.
  • 7CHANDRA A, CHAKRABARTY K. System - on - a - chip test data compression and decompression architectures based on Golomb codes [J]. IEEE Transactions on CAD of Integrated Circuits and Systems, 2001, 20(3) : 355 - 368.
  • 8CHANDRA A, CHAKRABARTY K. Frequency-directed run-length (FDR) cedes with application to system-on-a-chip test data compression [ C]// Proceedings of the 19th IEEE VLSI Test Symposium. Washington: IEEE Computer Society, 2001:42 -47.
  • 9CHANDRA A, CHAKRABARTY K. Test data compression for system-on-a-chip using golomb codes [C]// Proceedings of the 18th IEEE VLSI Test Symposium. Washington: IEEE Computer Society, 2000:113 - 120.
  • 10JAS A, DASTIDAR J G, TOUBA NA. Scan vector compression/decompression using statistical coding [C]// Proceedings of the 17th IEEE VLSI Test Symposium. Washington: IEEE Computer Society, 1999:114 - 120.

共引文献7

同被引文献8

引证文献1

计算机研究与发展
2010年 第S1期

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