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后处理设备位移传感器的干扰源分析及解决
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摘要
针对后处理设备调试中位移传感器发生的干扰现象,根据控制系统的具体情况,分析了可能存在的干扰源,并采取了相应措施,解决了干扰问题。
作者
孙良勤
冯梅
鲍延年
机构地区
中国工程物理研究院化工材料研究所
出处
《设备管理与维修》
2011年第S1期102-103,共2页
Plant Maintenance Engineering
关键词
传感器
位移
干扰
分类号
F4 [经济管理—产业经济]
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设备管理与维修
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