结合奇偶测试的大规模集成电路征兆测试

Combined parity testing for syndrome testing of VLSI circuits

征兆测试是一种高效简捷的电路测试方法。该文提出一种适用于大规模集成电路的测试方法——组合征兆测试法。利用这种方法,测试者可以通过穷举输入组合,使奇偶测试和征兆测试相结合,共同解决对大规模集成电路故障测试的难题。主要思想是:首先通过被测电路的奇偶性判断该电路的征兆测试法的可测性,对征兆测试法不可测的电路,引入高阶征兆测试的思想,使其成为高阶征兆测试法可测电路。结果表明:该方法在提高可测性的同时,还提高了电路征兆测试的测试效率和故障覆盖率。通过对一些基准电路和常用电路的测试验证了该方法的实用性。