利用铜探针在Ag(111)表面进行单原子横向操纵的可靠性研究

Reliability of the Lateral Manipulation of Single Ag Atoms on the Ag(111) Surface with the Cu Tip

采用分子力学方法结合原子嵌入势,模拟利用铜探针对吸附在Ag(111)表面的单个Ag原子进行横向操纵,主要研究探针高度对横向操纵可靠性的影响。使用单原子探针可以在平整的Ag(111)表面实现成功的横向操纵,探针的高度范围是1.0到4.9埃()。总体上,操纵可靠性随探针高度的增加而降低。与使用银探针进行的横向操纵相比[Appl.Surf.Sci.256(2009)1502],操纵可靠性在较宽的探针高度范围内有明显提高。