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GE ProSpeed AI CT复杂故障1例

Complex fault in GE ProSpeed AI CT:case report
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作者 王明昭
出处 《中国医学影像技术》 CSCD 北大核心 2009年第S1期126-126,共1页 Chinese Journal of Medical Imaging Technology
关键词 电路 伪影 Circuit Artifacts
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