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可测试性设计技术

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摘要 本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
作者 蒋敬旗
出处 《中国集成电路》 2002年第8期41-46,共6页 China lntegrated Circuit
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