摘要
本文主要讨论了集成电路(IC)测试的目的、分类、测试系统及测试技术,最后论述了系统集成芯片(SoC)的出现对测试技术提出了新的要求。
出处
《中国集成电路》
2002年第6期89-91,共3页
China lntegrated Circuit
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