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光学薄膜参数测试

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摘要 O484.5 2002010501反射干涉光谱法测量固体薄膜的光学常数和厚度=Re-flection interference method for determining opticalconstants and thickness of a thin solid film[刊,中]/杨鹏,徐志凌。
出处 《中国光学》 EI CAS 2002年第1期70-70,共1页 Chinese Optics
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