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摘要 TH74 2002010775背面直接取样结构电光取样的空间分辨率=Spatialresolution of electrooptic sampling with back - di-rect sampling structure[刊,中]/贾刚,陈占国,曹杰,

出处《中国光学》 EI CAS 2002年第1期106-106,共1页 Chinese Optics

关键词系统空间分辨率电光取样直接取样背面集成光电子学结构毫米波国家重点实验室电子工程测量原理

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中国光学

2002年第1期

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