非光学量测试与设备

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摘要 TB92 2002021470基于投影栅相位法的透明体表面微观形貌测量=Mea-surement of transparence surface microtopographybased on phase - approaching of projected grating[刊,中]/司书春,王蕴珊,周灿林(山东工业大学数理系.山东,济南(250061))。

出处《中国光学》 EI CAS 2002年第2期92-94,共3页 Chinese Optics

关键词山东工业大学测量方法投影栅相位法光学技术线结构激光机器视觉测量系统表面微观形貌测量华中科技大学透明体

分类号 TG83 [金属学及工艺—公差测量技术]

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