光电成像与器件

下载PDF

导出

摘要 TN141.3 2002042911荫罩板孔形尺寸的视觉检测算法研究=Study of visu-al testing algorithm for hole shapes and sizes ofshadow mask[刊,中]/张洪涛,段发阶,叶声华(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室.天津(300072))∥光电工程.—2001,28(5).

出处《中国光学》 EI CAS 2002年第4期71-72,共2页 Chinese Optics

关键词光电工程测试技术国家重点实验室算法研究光电成像系统天津大学计算机视觉检测研究所尺寸检测精密仪器

分类号 TN141.3 [电子电信—物理电子学]

引文网络
相关文献

1顾聚兴.非接触尺寸检测[J].红外,1990(6):44-44.
2张洪涛,段发阶,叶声华.荫罩板孔形尺寸的视觉检测算法研究[J].光电工程,2001,28(5):62-64. 被引量：5
3洁儿.LCD的面子有多大[J].电脑新时代,2001(8):61-63.
4郭斌,徐杜,蒋永平,黄品松,陈济棠,孔海朋,梁柱.一种轴类零件边缘精确定位方法[J].计算机工程与应用,2012,48(10):238-241. 被引量：4
5黄焰华.电视在尺寸检测中的应用[J].电视技术,1989(11):43-44.
6A Kamalianfar,S A Halim,Mahmoud Godarz Naseri,M Navasery,Fasih Ud Din,J A M Zahedi,Kasra Behzad,K P Lim,A Lavari Monghadam,S K Chen.Growth and characterization of ZnO multipods on functional surfaces with different sizes and shapes of Ag particles[J].Chinese Physics B,2013,22(8):683-689.
7成春到.彩电的防磁与消磁[J].新农村,2002(10):22-22.
8沈柔.显示器名词加油站[J].微型计算机,1999,19(8):20-21.
9殷伯华,初明璋,林云生,韩立.CD-AFM在45nm节点半导体芯片检测过程中的应用[J].电子显微学报,2009,28(2):127-130. 被引量：4
10GAPGUN^TM 3激光缝隙面差检测仪——世界上最轻最快的激光缝隙面差检测仪来到中国！[J].模具工程,2005(9):8-8.

中国光学

2002年第4期

浏览历史

内容加载中请稍等...

光电成像与器件

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史