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摘要 TN206 2002053869基于多分辨分析的集成元件管脚微位移检测=Deviationinspecting of DIP chip pin micro-shift basedon multi-resolution analysis[刊,中]/李鹏,方志良,刘福来,赵鹏,母国光(南开大学现代光学研究所。

出处《中国光学》 EI CAS 2002年第5期92-92,共1页 Chinese Optics

关键词多分辨分析微位移检测光电子集成元件共焦扫描显微镜轴向响应曲线现代光学南开大学天津市管脚

分类号 TN206 [电子电信—物理电子学]

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2002年第5期

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