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接近零不合格品过程的几何EWMA控制图

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摘要 本文以相邻不合格品之间的连续合格品数作为控制对象,建立了几何EWMA控制图;以平均不合格品数(简记为ANNC)作为几何EWMA控制图的评价标准,给出了受控ANNC依次为50,80,100,150,200时几何EWMA控制参数数值表;介绍了几何EWMA控制的设计步骤,并将接近零不合格品过程的几何EWMA控制图与接近零不合格品过程的几何CUSUM控制图进行比较。
作者 孙静 张公绪
机构地区 北京科技大学
出处 《质量与可靠性》 1999年第2期16-19,共4页 Quality and Reliability
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