全反射X荧光(TXRF)分析仪及其技术

全反射 X 荧光(TXRF)分析技术是八十年代发展起来的多元素同时分析技术,它的突出优点是检出限低(pg.ppg 级以下)、用样量少((1ng 级)、准确度高(可用内标法)、简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法,被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段。在微量和痕量分析的原子谱仪领域内,处于领先地位。