期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
控制BGA组装过程中的焊点空洞
被引量:
1
下载PDF
职称材料
导出
摘要
前言BGA 焊点内的空洞将会影响其机械性能,使焊点强度、韧性、蠕变和疲寿命降低,还会使焊点过热,降低可靠性。空洞与回流焊时焊膏所带助焊剂的气化,特别是可焊性有直接的关系。1 试验1.1 溶剂沸点四种膏状助焊剂 B1、B2、B3、B4,其溶剂沸点分别为276℃、231℃、171℃和137℃,其他组分都相同。为了减少溶剂化学特性的差异并且使它们的差异只表现在沸点不同上。
作者
孙忠新
机构地区
江南计算技术研究所
出处
《印制电路信息》
1999年第6期34-36,共3页
Printed Circuit Information
关键词
助焊剂
空洞
焊剂活性
焊点强度
可焊性
溶剂干燥
金属含量
焊膏
沸点
膏状
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
14
引证文献
1
二级引证文献
5
同被引文献
14
1
韩潇,丁汉,盛鑫军,张波.
CSP封装Sn-3.5Ag焊点的热疲劳寿命预测[J]
.Journal of Semiconductors,2006,27(9):1695-1700.
被引量:9
2
Kawai S, Nishimura A, Hattori T, et al. Reliability evaluation of electronic devices [J]. Mater Sci Eng., 1991, A143:247-256.
3
Kamei T, Nakamura M. Hybrid IC structures using solder reflow technology [J]. Microelectron Reliab, 1980, 20(3): 388.
4
Hall P M. Solder post attachment of ceramic chip carriers to ceramic film integrated circuits [J]. Microelectron J, 1983, 14(5): 81.
5
Goldman L S. Geometric optimization of controlled collapse interconnections [J]. IBM J Res Devel, 1969, 13(3): 251-265.
6
Satoh R, Ohshima M, Komura H, et al. Development of a new micro solder bonding method for VLSI [J]. Int Electron Packg Soc Inc, 1983, 455-461.
7
Nagesh V K. Reliability of flip chip solder bump joints [J]. Microelectron Reliab, 1983, 23(3): 588.
8
Goldman L S, Totta P A. Area array solder interconnection for VLSI [J]. Solid State Technol, 1983, 26(6): 91-97.
9
Howard R T. Optimization of indium lead alloys for controlled collapse chip connection application [J]. IBM J Res Devel, 1982, 26(3): 372-389.
10
Matsui N, Sasaki S, Ohsak T. VLSI chip interconnection technology using stacked solder bumps [J]. Microelectron Reliab, 1989, 29(4): 1989.
引证文献
1
1
蒋礼,张桂英,周孑民.
剪切蠕变下无铅焊点厚度的尺寸效应[J]
.电子元件与材料,2008,27(8):55-58.
被引量:5
二级引证文献
5
1
尹立孟,李望云,位松,许章亮.
焊点尺寸对微焊点拉伸断裂强度的影响[J]
.电子元件与材料,2011,30(9):57-60.
被引量:6
2
张文斐,安兵,柴駪,吕卫文,吴懿平.
无铅焊料的蠕变行为研究进展[J]
.电子工艺技术,2012,33(4):193-198.
被引量:1
3
柴駪,安兵.
大电流密度下倒装芯片凸点的剪切蠕变性能[J]
.中国科技论文,2013,8(8):764-767.
被引量:1
4
邓凝丹,左勇,马立民,郭福.
电流密度对Sn3.0Ag0.5Cu焊点蠕变行为的影响[J]
.电子元件与材料,2014,33(7):71-74.
被引量:1
5
宋昱含,杨雪霞,崔小朝.
热载荷下金属间化合物厚度对焊点可靠性的影响[J]
.电子元件与材料,2017,36(7):85-88.
被引量:1
1
移动沸点——http://www.mobile 100.com[J]
.电子与电脑,2000(10):127-127.
2
严业安.
为何H_2O的熔沸点比HF高[J]
.福建教育学院学报,2008,9(6):47-48.
3
白蓉生.
看图说故事(续)[J]
.印制电路资讯,2010(2):53-60.
4
短信沸点[J]
.课堂内外(初中版),2010(3):37-37.
5
液晶显示器的保养和使用技巧[J]
.计算机与网络,2011,37(19):10-10.
6
黄卓,杨俊,张力平,陈群星,田民波.
无铅焊接工艺及失效分析[J]
.电子元件与材料,2006,25(5):69-72.
被引量:7
7
火花.
液晶显示器完全透视[J]
.数码先锋,2006,0(4):6-13.
8
马丽利.
PCB设计对焊点强度及坑裂失效的影响[J]
.电子产品可靠性与环境试验,2013,31(6):21-23.
被引量:1
9
产品推介[J]
.皮革与化工,2009,26(6):39-39.
10
吴军.
BGA焊点空洞问题分析[J]
.电子工艺技术,2013,34(4):223-225.
被引量:6
印制电路信息
1999年 第6期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部