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光谱分析与光谱测量

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摘要 O433’98020792GaAs表面Si-δ掺杂的调制光谱研究=Study of opticalproperties of surface Si-δ doping on GaAs(001)by PR[刊,中]/刘兴权,陆卫,陈效双,乔怡敏,史国良,沈学础(中科院上海技物所红外物理国家重点实验室.上海(200083))∥量子电子学报.-1997,14(4).-289-293利用光调制光谱与分子束外延结合的方法,原位测量GaAs(001)表面Si-δ掺杂结构样品。
出处 《中国光学》 EI CAS 1998年第2期15-17,共3页 Chinese Optics
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