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协同发展——多层印制板和X射线检测
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摘要
PCB制造者在生产单面或双面板时,孔对焊盘的对准可以很容易通过目测检验完成。然而,八十年代初期,多层板的出现向检测提出了二项挑战:内层的孔对焊盘的目视对准变得不可能,内层照相底版的任何错位也无法看到。
作者
David Zweig
孙斌
出处
《印制电路信息》
1998年第3期32-34,共3页
Printed Circuit Information
关键词
多层印制板
线检测
X射线管
协同发展
照相底
破坏性试验
过程控制
放大倍数
未对准
影象
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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印制电路信息
1998年 第3期
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