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大调制度下运动干涉条纹光折变记录技术

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摘要 大调制度下运动干涉条纹光折变记录技术周忠祥冯玉文孙秀冬李焱姜永远许克彬(哈尔滨工业大学应用物理系150006)光折变折射率相位光栅记录一般分为两种类型:一种是无外场或外场恒定时对固定干涉条纹进行记录。在恒定外场作用下,空间电荷场及其所产生的折射率相位...
出处 《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第S2期95-95,共1页 Journal of Dalian University of Technology
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