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光学薄膜厚度监控的研究
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摘要
光学薄膜厚度监控的研究魏红振杨杨李家熔(华中理工大学激光工程研究院武汉430074)对于多层薄膜的制备,精确监控每一层膜的厚度是必须的,否则不可能制备一个预期的薄膜系统。应用最广泛的监控方法是采用光电检测,直接测量薄膜透过率或反射率值的极值控制方法。...
作者
魏红振
杨杨
李家熔
机构地区
华中理工大学激光工程研究院
出处
《大连理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第S2期118-118,共1页
Journal of Dalian University of Technology
关键词
薄膜厚度
透过率
监控方法
微分值
光电检测
控制灵敏度
采样频率
激光工程
测量误差
极值点
分类号
O484.41 [理学—固体物理]
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大连理工大学学报
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