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集成电路测试方法与技术

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摘要 ●●●●集成电路测试方法与技术该成果具体内容有：１．大型复杂数字电路的测试产生系统，能处理５０００门左右的数字电路，故障覆盖率达９０％以上。２．临界路径跟踪测试产生和平行码临界路径跟踪故障模拟的实验系统，其故障覆盖率达９８％。３．对时延故障提出了Ｐ前...

出处《技术与市场》 1997年第10期13-13,共1页 Technology and Market

关键词集成电路测试方法与技术临界路径跟踪测试产生故障覆盖率故障模拟数字电路测试系统时延故障实验系统

分类号 F76 [经济管理—产业经济]

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技术与市场

1997年第10期

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