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迎头色谱法测定纳米粒子平均粒径的探讨

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摘要 八十年代以来,国内外掀起了纳米材料的制备和性能研究的高潮。纳米材料的特殊性能与它的粒子形态和尺寸密切相关,所以了解纳米粒子的大小尺寸,是至关重要的。为此,目前多采用透射电镜观察或通过X射线衍射进行粒径分析计算。
机构地区 福州大学化学系
出处 《福建分析测试》 CAS 1996年第4期532-533,共2页 Fujian Analysis & Testing
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