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上海商检局举办“光谱技术座谈会”

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摘要 1994年6月1日,上海商检局行政处与法国科梅夫仪器公司联合在上海商检局举办“光谱技术座谈会”。与会代表由上海商检局各有关检验处室、天津商检局等兄弟单位及上海市光谱界的专家、技术人员共60余人参加。
作者 周苏闽
机构地区 上海商检局
出处 《检验检疫学刊》 1994年第4期34-34,共1页 Journal of Inspection and Quarantine
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