用白光条纹法测薄膜厚度

MEASURIG FILM THICKNESS BY USING WHITE LIGHT FRINGE METHOD

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摘要本文介绍用白光条纹法测量透明介质薄膜厚度的一种方法． This paper presents a method for measuting transparent medium film thictness by using white.light fringe method.

作者陈渌川

机构地区北京建工学院

出处《大学物理实验》 1994年第3期15-16,28,共3页 Physical Experiment of College

关键词迈克尔逊干涉仪白光条纹法薄膜 Michelson interferometer white light firnge method film

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大学物理实验

1994年第3期

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