光学系统测试及设备

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摘要 TH74 94042970微机控制AF系统测试[会,中]/冯华君(浙江大学光科系)∥第5届全国光学测试学术讨论会.—山东曲阜,93.9本仪器又称自动对焦(AF)光斑对准仪,主要用来测试照相机或其它仪器的AF系统发射光斑的位置、大小和能量,以保证AF系统的发射元件位置准确,发射能量强度合适,使自动对焦有最高的精度。测试时。

出处《中国光学》 EI CAS 1994年第4期89-89,共1页 Chinese Optics

关键词学术讨论会自动对焦系统测试光学测试照相机仪器发射元件山东曲阜浙江大学光斑

分类号 TB852.1 [一般工业技术—摄影技术]

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4长焦一派[J].数码,2003(9):16-16.
5郑克哲,陈进榜,苏大图,李德富.国防光学测试计量进展与展望[J].应用光学,1995,16(6):1-5.
6光度计量及仪器[J].中国光学,1994(4):1-2.
7王金鸿.铁路计量技术委员会二届二次会议暨2008年度铁道计量检定规程审定会召开[J].铁道技术监督,2009,37(1):55-55.
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