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光学薄膜参数、测试及设备
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摘要
O484.5 94032127表西光电压法测量 a—Si:H 少子扩散长度的进一步研究=The further study on measuring diffu-sion length of minority carrier in a—Si:Hwith SPV method[刊,中]/张治国(内蒙古师范大学物理系),宿晶厚(北京工业大学电子工程系)∥太阳能学报.—1993,14(4).
出处
《中国光学》
EI
CAS
1994年第3期74-75,共2页
Chinese Optics
关键词
光学薄膜
光电压法
物理系
反应离子
学术讨论会
太阳能学报
集成光学
电子工程
放大器
同步辐射
分类号
O484.41 [理学—固体物理]
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中国光学
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