国外晶体元件标准测试方法简介

概述了美、日及欧洲采用的晶体元件标准测试方法,即CI法、传输法和阻抗法,重点介绍了这三种测试方法的原理、检测装置、测量范围以及各项技术参数的计算方法,并对各测试方法的特性和我国采用的情况作了简要的分析与展望。