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光技术用于超精密测定的近况和展望

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摘要 本文介绍了利用光的高分辨率、高精度的测定技术近况,并展望它用于更高精度测定的前景。
作者 陈幼松
机构地区 北京理工大学
出处 《中国仪器仪表》 1993年第5期20-22,共3页 China Instrumentation
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