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VLSI门级及功能级混合测试生成技术

Generation of Mixed Tests for Gate and Function Levels of VLSI
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摘要 介绍了混合形式自动测试图形生成技术,该技术将门级测试图形生成技术与在线路高一级抽象形式上进行测试生成技术相结合。利用该技术开发的自动测试生成程序在内附检测器自动植入模块后可用于VLSI线路的设计系统。 An automatic test graphics technique in mixed form is presented and the relative test graphics generator in design of VLSI is discussed.
作者 赵战平
出处 《航空精密制造技术》 1992年第6期24-26,43,共4页 Aviation Precision Manufacturing Technology
关键词 自动测试生成系统 门级测试生成 基本功能单元 并存错误检测(CED) automatic test generating system gate level test generaion basic function block coexisting error detection (CED)
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