期刊文献+

x线头影测量在口腔正畸中的应用

下载PDF
导出
摘要 X线头影测量,是利用X线头颅定位像上牙颌及颅面的各标志点,描绘出一定的线角进行测量分析。从而为进一步明确口腔错位畸形的诊断和设计提供了重要的参考依据。也是评定矫治效果,矫治器作用和进行科研的一个重要手段。本文通过临床实例,从两方面加以阐述。一、X线头影测量在错(牙合)畸形诊断及矫治设计的应用。
作者 霍宗芳
出处 《神经药理学报》 1992年第4期59-59,57,共2页 Acta Neuropharmacologica
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部