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单晶硅反常色散区发光光谱的研究

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摘要 用单光子技术测量了单晶硅在^(90)Sr-β源照射下的受激发光光谱,在硅的反常色散区确证了荧光的存在,并且给出了切伦柯夫辐射存在的迹象。
作者 陈京 陈永中
出处 《研究生教育研究》 1992年第S1期33-38,共6页 Journal of Graduate Education
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