用显微晶体折射仪测量晶体主折射率的可能性

本文揭示了一种通过测量和计算,确定晶体性质和种类的方法,这种方法可用于简化光学测量晶体的三个主折射率的程序。它的理论根据是:用通过椭球心的三个平面与椭球相截所得到的三个椭圆截口的长短半轴长,计算椭球的三个半轴长。