摘要
智能是同思维、学习和适应环境有关的一种潜在的能力,测定儿童这种能力的方法很多。早在1905年法国心理学家比奈(Binet)制定了第一张儿童智能测试量表,以后经美国斯坦福大学修订,成为世界著名的斯坦福—比奈智力量表(Stan—ford—Binet intelligence scale)。后来,在世界上又出现了不少影响较大的智能测试方法,如美国的盖塞尔(Gesell)、丹佛(DDST)、魏氏(Wechsler)和日本的远城寺等测试方法。
出处
《中国优生与遗传杂志》
1991年第4期43-46,共4页
Chinese Journal of Birth Health & Heredity