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运算放大器CA3140瞬时电离辐射效应正交实验研究

Research on Orthogonal Design of Transient Ionizing Radiation Effect Experiments on a BiMOS Op-Amp CA3140
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摘要 在“强光一号”上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐射效应正交实验,研究了不同因素对CA3140输出端瞬时电离辐射扰动恢复时间的影响,得到了不同因素对恢复时间产生影响的主次顺序和显著水平,以及运算放大器在瞬时电离辐射环境下的最坏因素组合.
作者 马强 金晓明 杨善潮 林东生 王桂珍 李瑞宾
机构地区 西北核技术研究所 西安
出处 《现代应用物理》 2013年第2期-,共6页 Modern Applied Physics
关键词 正交设计 瞬时电离辐射效应 BIMOS 恢复时间
分类号 TN431 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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共引文献13

现代应用物理
2013年 第2期

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