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NI数据采集全国巡回研讨会成功启航

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摘要 早春三月,NI公司“构建完整的数据采集系统”全国主题巡回研讨会在上海和北京两大城市相继拉开了帷幕,共吸引了四百余名需要测试测量应用的专业人士到场“JZ1”。3月24日的上海站和3月31日的北京站活动分别选在上海图书馆和北京中国国家图书馆的会议厅举行,这两座文化宝库的清雅书香更衬托了NI研讨会的高技术含量以及以用户为本的服务理念。
出处 《电子测试(新电子)》 2004年第5期102-102,共1页 Micro-Electronics

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