小儿异常脑电图发生率的影响因素分析

目的 探讨小儿癫痫和热性惊厥异常脑电图 (EEG)发生率的影响因素。方法 采用日本光电4 4 18EEG机对临床诊断的 136例癫痫患儿、10 5例热性惊厥患儿和 79例其他疾病的患儿作常规EEG描记和睡眠或过度换气诱发描记 ,并对影响异常EEG发生率的因素进行综合分析。结果 癫痫患儿异常EEG发生率与记录时程的长短成正相关 ,记录时间 30分钟异常EEG发生率可达 5 6 % ,同时必要的诱发试验可使异常EEG检出率提高到 80 1%。而癫痫患儿异常EEG发生率的高低与发作形式和病程无明显关系。结论提高间歇期EEG诊断的准确性和异常EEG的检出率 。