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线结构光传感器在BGA管脚三维尺寸测试中的应用

An Application of Line-structured Laser Sensor in BGA Chip Pins'3-D Measurement
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摘要 本文成功地将激光线结构光传感器用于表面安装技术中BGA芯片管脚的三维尺寸测量。提出了测量实验系统 ,建立了测量系统数学模型。研究了提高分辨力的光学图像拆分、再合成技术。 This article presents a successful application of line structured laser sensor in SMT based BGA chip pins' 3 D measurement An experimental measurement system is put forward and a corresponding mathematics model is established A study of optical image splitting and splicing technology is capable of higher resolution
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期146-148,共3页 Chinese Journal of Scientific Instrument
基金 国家自然科学基金资助项目!(No 6990 60 0 1 )
关键词 线结构光传感器 表面安装技术 BGA芯片 三维尺寸测量 分辨力 球栅阵列 集成电路 BGA chip Line structured laser sensor 3 D measurement
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Ye Shenhua,SPIE Automated Optical Inspection for Industry:Theory,Technology,and Applications,1998年,110页
  • 2Hwang Jennies,BGA:Soldering concerns and defects SMT,1994年,18页
  • 3Hwang Jennies,Reliability of BGA solder interconnections SMT,1994年,14页

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