关于可测性问题的讨论——高质量与高价格

今年的VLSI测试讨论会在美国东部城市新泽西举行。这次讨论会是围绕“高水平的测试质量是否就意味着高造价的测试设备”这个主题而展开的。参加这次讨论会的都是ATE的使用者。他们是:Hewlett-Packard的Bulentdervisoglu,AT＆T的Jose Miranda, IBM的Phil Nigh,还有Boeing的Steve Tanemura。他们做出了相似的答案,也就是就目前来说,高水平的测试质量确实需要高造价的测试设备,然而,在今后,有可能通过可测性的设计,降低对测试设备的要求,从而降低测试设备的价格。