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用微波有源传感测量塑料薄膜厚度 被引量:2

The Thickness Measurment of the Plastic Film With a Microwave Active Sensor
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摘要 频带反射腔控耿氏振荡器具有单调谐的特性,适于作为电量或非电量的有源传感器.本文介绍一种用于测量塑料薄膜厚度的腔控振荡器,频带反射腔用圆柱TE_(011)腔,工作在三公分波段,对于ε’_r≥2.0以上塑料薄膜,测量厚度的分辨率为±0.1μm,精度±0.75μm(开机半小时后,不进行零点校正),测量范围0~200μm.且可实现无接触测量,适于检验应用. The analysis and the experimental result show that the Gunn diode oscillators controlled by the reflection within frequency band type cavity have mono-tuning property. The perfect active sensors which are available for electrical parameter and nonelectrical parameter. In this paper, a cavity controlled oscillator measuring the plastic film thickness is introduced. A cylindrical cavity of TE_(011). mode is used as the frequency band type reflection cavity. The TE_(011). cavity works in the 3cm frequency band. For the dielectric material of plastic film which ε_r>2.0, the thickness measuring resolution is of ± 0.1um, the precision is of ± 0.75um, the measuring range is of 0-200um, and we get non-contract measurment. It is suitable for examining application.
机构地区 厦门大学
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 1993年第1期34-39,共6页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
关键词 有源传感 腔控振荡器 薄膜厚度 Active sensor Cavity controlled oscillator Film thickness
  • 相关文献

参考文献1

  • 1吕文选,固体电子学研究与进展,1992年,1期

同被引文献9

  • 1吕文选.微波测量厚度技术[J].微波学报,1989,5(3):49-55. 被引量:4
  • 2宁永兰,电测与仪表,1990年,9期,38页
  • 3陈涵奎,1990年
  • 4茆洪林,1990年
  • 5吕文选,厦门大学学报,1989年,28卷,1期,39页
  • 6邱士年,武汉电子技术,1983年,1期,60页
  • 7魏耀明,厦门大学学报,1979年,4期,39页
  • 8魏耀明,夏德昊,陈祥福,钟茂声,吕文选.微波谐振腔微扰法测湿仪的研制[J]厦门大学学报(自然科学版),1979(04).
  • 9吕文选.微波腔体微扰方法测量非电量技术[J].固体电子学研究与进展,1990,10(2):211-216. 被引量:9

引证文献2

二级引证文献3

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