期刊文献+

动态随机存取记忆体的深槽电容器制造方法

Introduction to Deep Trench Capacitor Fabrication of High Density DRAM
下载PDF
导出
摘要 首先对深槽电容器应用于4Mb至256Mb动态随机存取记忆体的发展做简要的回顾,以便于读者了解不同时期的记忆体元件设计概念及关键技术。后半部分以示意图方式解析256Mb深槽电容器制造工艺流程,使读者进一步了解先进记忆体产品制造上的主要挑战。 Thedevelopmentofdeep-trenchcapacitorfrom4Mbto256MbDRAMisbrieflyreviewedtogivethereadersasenseofthedesignconceptandthetechnologiesinvolvedforeachgeneration.Asimplifiedprocessflowofthedeep-trenchmoduleisillustratedtohelptheunderstandingofthechallengesof256MbDRAMmanufacturing.
作者 衣冠君
机构地区 中芯国际
出处 《电子工业专用设备》 2004年第5期56-63,共8页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 深槽 电容器 埋藏式连接器 埋藏式基板 动态随机存取记忆体 Deep-trench Capacitor DRAM Burriedstrap Burriedplate
  • 相关文献

参考文献17

  • 1C.T. Sah. Evolution of the MOS Transistor, Proc. IEEE, Vol.78, 1988.
  • 2W.F. Richardson. ""A Trench Transistor Cross-Point DRAM Cell"", IEDM Tech. [J]. 1985, 714-717.
  • 3N. Lu.,""The SPT Cell-A New Substrate Plate Trench Cell for DRAMs"", IEDM Tech. [J]. 1985, 771-772.
  • 4K.P. Muller. ""Trench Storage Node Technology for Gigabit DRAM Generations"", IEDM Tech. [J]. 1996, 507-510.
  • 5T. Kaga. ""Process and Device Technology for 1 Gbit DRAM Cells"",J. Vac. Sci. Technol. 1995, B13, No.6.
  • 6S. Nakajima, K. Miura, K. Minegishi, ""An Isolation-Merged Vertical Capacitor Cell for Large Capacity DRAM"", IEDM Tech. [J]. 1984, 240-243.
  • 7M. Sakamoto.""Buried Storage Electrode (BSE) Cell for Megabit DRAMs"", IEDM Tech. [J]. 1985, 710-713.
  • 8S. Saida. ""Single Layer Nitride Capacitor Dielectric Film and High Concentration Doping Technology for 1G/4G Trenchtype DRAMS"", IEDM Tech. [J]. 1997, 265-268.
  • 9S.Wolf. Silicon Processing for VLSI Era, 1990.
  • 10A. Nitayama, Y. Kohyama, and K. Hieda, ""Future Directions for DRAM Memory Cell Technology"", IEDM Tech. [J]. 1998,355-358.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部