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射线探伤底片质量控制最佳方案

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摘要 科学、客观地对底片进行评价 ,有利于保证检测质量、降低检测成本和缩短检测工期 ,提高经济效益。针对底片中常见伪缺陷、编号及标记错漏、标记摆放及底片黑度、底片搭接等问题 ,提出底片像质控制尺度及处理原则。
作者 李兆太
出处 《无损探伤》 2004年第3期29-30,共2页 Nondestructive Testing Technology
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