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CMOS电路的最大动态功耗计算和测试生成

Calculation and Test Generation of the Maximum Dynamic Power Consumption lor CMOS Circuits
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摘要 本文首先提出,CMOS电路的最大动态功耗计算,可以通过计算在特定输入序列作用下电路中的不变门数的最小值来实现。本文提出的极性推导、赋值法可以快速求解不变门数的最小值,并生成相应的输入序列。该算法与电路的输入变量数无关。 This paper shows that calculation of the maximum dynamic power consumption for CMOS circuits may be achieved through calculating the minimum number of non-convertion gate in the circuit with a special test sequence as input. The algorithm about polarity assignment and value assignment advanced in this paper could be used not only to solve fast the minimum number of non-convertion gate but also to generate the corresponding test sequence. This algorithm is independent of the number of input variable in the circuit.
机构地区 北方交通大学
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第2期48-54,共7页 Acta Electronica Sinica
关键词 CMOS电路 功耗计算 测试 集成电路 CMOS circuits, Dynamic power consumption calculation, Test generation algorithm, Combinational logic circuits
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