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广义反投影定位K故障

Ceneralized Inverse Projection for Location of K-faults in Analog Circuits with Tolerance
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摘要 提出容差模拟电路故障诊断的新方法一广义反投影法.它的故障定位准确率与当今最精良的定位法(非线性最小二乘法)相当. This paper proposes a novel algorithm, the GIP (Generalized Inverse Projetion), to locate faults in analog circuits with tolerance. The computation time it takes is only a twentieth or a hundredth of the NLS'(Nonlinear Least Square) with the same accu- racy as the NLS', which has been considered so far the most accurate for location of faults.
出处 《福州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1993年第2期23-28,共6页 Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition)
关键词 模拟电路 故障诊断 反投影 analog circuits fault dianosis inverse projection singnlar value decomposi-tion
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参考文献1

  • 1吴耀.在K故障诊断法中减少容差影响的一种办法[J]清华大学学报(自然科学版),1988(04).

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