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片状钽电容失效分析
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摘要
针对片状钽电容在实际使用中失效率过高的问题,从电路设计和制造工艺两个方面分析导致片状钽电容失效的原因,并根据分析的结果给出相应的预防其失效的具体措施。
作者
刘家欣
肖大雏
徐征
机构地区
武汉大学自动化系
出处
《电子工业专用设备》
2004年第7期79-82,共4页
Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词
片状钽电容
电路设计
制造工艺
失效
分类号
TM53 [电气工程—电器]
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电子工业专用设备
2004年 第7期
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