期刊文献+

片状钽电容失效分析 被引量:2

下载PDF
导出
摘要 针对片状钽电容在实际使用中失效率过高的问题,从电路设计和制造工艺两个方面分析导致片状钽电容失效的原因,并根据分析的结果给出相应的预防其失效的具体措施。
出处 《电子工业专用设备》 2004年第7期79-82,共4页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
  • 相关文献

同被引文献7

引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部