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半导体疲劳与可靠性测试

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出处《现代制造》 2004年第15期56-56,共1页 Maschinen Markt

关键词半导体疲劳可靠性测试 4200-SCS型半导体特征描述系统

分类号 TN304.07 [电子电信—物理电子学]

引文网络
相关文献

1吉时利推出4200-SCS型半导体以及KTEI 5.0软件[J].电子与电脑,2004,0(2).
2吉时利结合4200-SCS与KTEI 5．0软件[J].电子测试,2004(1):120-120.
3吉时利和CNSI宣布在纳米技术测量领域合作[J].电子测试,2007(11):91-91.

现代制造

2004年第15期

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