摘要
通过对 ＣＭ ＯＳ 存储器 ＩＤＤ 频谱图形测试过程的介绍，测试及试验数据证实 ＣＭ ＯＳ 存储器 ＩＤＤ 频谱图 ：形 测 试是 可行 的 。
This paper introduced the realization procedure of IDD spectrum graphics.Test and experiment data proved that CMOS memory IDD spectrum graphics test is work.
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2004年第4期50-52,共3页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
基金
电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室基金(99JS03.7.1ZS0305)资助。
