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利用谱线宽度法测定高含量铋 被引量:2

THE DETERMINATION OF HIGH-CONTENT BISMUTH IN SILICON-BISMUTH SAMPLES BY LINE WIDTH METHOD
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摘要 用谱线宽度方法定量检测了硅铋样品中含量为70%的铋,相对误差小于7.15%,相对标准偏差为5.85%。讨论了电极间距、曝光时间、工作电流和显影时间对分析线对宽度差之影响。 The quantitative determination of 70% bismuth in silicon-bismuth samples were completed by line width method. The relative error is less than 7.15%, the relative standard deviation is 5.85%. The influence of the distance between both electrodes, exposure time, working current, and developed time to the width differences of analytical line pair were discussed.
机构地区 河北大学物理系
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期41-44,92,共5页 Spectroscopy and Spectral Analysis
关键词 谱线宽度法 高含量 Line width method, Bi, High content
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献3

  • 1陈金忠,光谱学与光谱分析,1988年,8卷,5期,50页
  • 2孔凤翔,河北大学学报,1986年,6卷,3期,10页
  • 3团体著者,岩石矿物光谱分析,1975年

共引文献2

同被引文献3

  • 1[1]岩石矿物分析编写组.岩石矿物分析:第二分册[M].北京:地质出版社,1991.
  • 2寿曼立,仪器分析.2(第2版),1994年,173页
  • 3李维华,矿物激光显微光谱分析,1981年,64页

引证文献2

二级引证文献2

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