基于S3C4510B的嵌入式系统调试技术
Debugging Technology Based on S3C4510B for Embedded Systems
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2004年第5期67-68,共2页
Microcontrollers & Embedded Systems
-
1张国栋,朱平云,曲晖,陈望达,刘开辉.基于JTAG的板级可测试性设计[J].海军航空工程学院学报,2005,20(1):173-176. 被引量:5
-
2王征.关于JTAG链使用的设想[J].中小企业管理与科技,2012(18):226-226.
-
3朱堂全.现代光网的发展趋势[J].中国信息导报,2002(10):49-50.
-
4冰.JTAG测试技术[J].电子产品世界,2004,11(11A):67-70.
-
5王欣,李银辉.基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术[J].核电子学与探测技术,2012,32(8):968-970.
-
6刘军.JTAG技术在PCB测试中的应用[J].科技信息,2010(21). 被引量:2
-
7M2M:网络真的可以改变生活[J].电信技术,2008(5):113-114.
-
8张杰.2005Linux分水岭[J].中国计算机用户,2005(25):24-27.
-
9M2M:网络真的可以改变生活[J].通讯世界,2008(4):82-83.
-
10英特尔积极拓展Linux应用 大力促进MeeGo发展[J].硅谷,2011(18):74-75.