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摘要 2004年2月15日～19日在美国举行的ISSCC(国际固态电路会议)上,第一线的研究员针对芯片特性不一致性的增大问题展开了讨论.

出处《电子设计应用》 2004年第6期26-28,30,共4页 Electronic Design & Application World

关键词 ISSCC 国际固态电路会议芯片特性晶体管特性尺寸不一致性自律功能

分类号 TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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电子设计应用

2004年第6期

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