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几种先进光刻方法的比较
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摘要
随着集成电路功效越来越多,电路特征尺寸变得越来越小,超过制造电路图样的微光刻系统的分辨率和极限精度。今后几年,研究人员将寻求可使集成电路特征尺寸小至0.25μm的经济有效的光刻法。这些方法采用紫外光子。
作者
从征
出处
《国外激光》
CSCD
1993年第11期24-25,共2页
关键词
集成电路
光刻
分类号
TN405.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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国外激光
1993年 第11期
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